وزارت انرژی ایالات متحده (DOE) اخیراً سومین گزارش قابلیت اطمینان خود را در مورد درایورهای LED بر اساس آزمایش عمر تسریع شده طولانی مدت منتشر کرده است. محققان روشنایی حالت جامد (SSL) وزارت انرژی ایالات متحده بر این باورند که آخرین نتایج عملکرد عالی روش تست فشار شتاب (AST) را در شرایط سخت مختلف تایید می کند. علاوه بر این، نتایج آزمایش و عوامل شکست اندازه‌گیری شده می‌تواند توسعه‌دهندگان راننده را از استراتژی‌های مرتبط برای بهبود بیشتر قابلیت اطمینان آگاه کند.

همانطور که شناخته شده است، درایورهای LED، مانندخود اجزای LED، برای کیفیت نور مطلوب بسیار مهم هستند. طراحی مناسب درایور می تواند سوسو زدن را از بین ببرد و روشنایی یکنواخت را فراهم کند. و درایور نیز محتمل ترین مؤلفه در آن استچراغ های LEDیا وسایل روشنایی دچار مشکل می شوند. پس از درک اهمیت درایورها، DOE یک پروژه تست درایور طولانی مدت را در سال 2017 آغاز کرد. این پروژه شامل درایورهای تک کانالی و چند کاناله است که می تواند برای تعمیر دستگاه هایی مانند شیارهای سقف استفاده شود.

وزارت انرژی ایالات متحده قبلاً دو گزارش در مورد روند آزمایش و پیشرفت منتشر کرده است و اکنون این سومین گزارش داده آزمایش است که نتایج آزمایش محصول را تحت شرایط AST برای 6000 تا 7500 ساعت پوشش می دهد.

در واقع، صنعت برای چندین سال زمان زیادی برای آزمایش درایوها در محیط های عملیاتی معمولی ندارد. برعکس، وزارت انرژی ایالات متحده و پیمانکار آن RTI International، درایو را در محیطی که آن‌ها آن را 7575 می‌نامند، آزمایش کرده‌اند - هم رطوبت و هم دمای داخل به طور مداوم در 75 درجه سانتی‌گراد حفظ می‌شوند. این تست شامل دو مرحله تست راننده، مستقل از کانال طراحی تک مرحله ای هزینه کمتری دارد، اما فاقد مدار جداگانه ای است که ابتدا AC را به DC تبدیل می کند و سپس جریان را تنظیم می کند که منحصر به طراحی دو مرحله ای است.

وزارت انرژی ایالات متحده گزارش داد که در آزمایش های انجام شده بر روی 11 درایو مختلف، همه درایوها در یک محیط 7575 به مدت 1000 ساعت کار کردند. هنگامی که درایو در یک اتاق محیطی قرار دارد، بار LED متصل به درایو تحت شرایط محیطی در فضای باز قرار می گیرد، بنابراین محیط AST فقط روی درایو تأثیر می گذارد. DOE زمان عملیات تحت شرایط AST را با زمان کار در محیط های معمولی مرتبط نکرد. اولین دسته از دستگاه ها پس از 1250 ساعت کار از کار افتاد، اگرچه برخی از دستگاه ها هنوز در حال کار هستند. پس از تست به مدت 4800 ساعت، 64 درصد از دستگاه ها از کار افتادند. با این وجود، با توجه به محیط آزمایش سخت، این نتایج در حال حاضر بسیار خوب هستند.

محققان دریافته اند که بیشتر خطاها در مرحله اول درایور رخ می دهد، به خصوص در مدارهای تصحیح ضریب توان (PFC) و مدارهای سرکوب تداخل الکترومغناطیسی (EMI). در هر دو مرحله درایور، ماسفت ها نیز ایراد دارند. علاوه بر مشخص کردن مناطقی مانند PFC و MOSFET که می توانند طراحی درایور را بهبود بخشند، این AST همچنین نشان می دهد که معمولاً می توان خطاها را بر اساس نظارت بر عملکرد درایور پیش بینی کرد. برای مثال، نظارت بر ضریب توان و جریان افزایش می‌تواند عیب‌های اولیه را از قبل تشخیص دهد. افزایش چشمک زدن نیز نشان می دهد که یک نقص در حال رخ دادن است.

برای مدت طولانی، برنامه SSL DOE در حال انجام آزمایشات و تحقیقات مهم در زمینه SSL، از جمله در Gateway بوده است.