بر اساس گزارش های رسانه ها، وزارت انرژی ایالات متحده (DOE) اخیرا سومین گزارش قابلیت اطمینان خود را در مورد درایوهای LED بر اساس آزمایش عمر تسریع شده طولانی مدت منتشر کرده است. محققان در روشنایی حالت جامد (SSL) وزارت انرژی ایالات متحده بر این باورند که آخرین نتایج تأیید می کند که روش تست استرس تسریع شده (AST) عملکرد خوبی را در شرایط سخت مختلف نشان داده است. علاوه بر این، نتایج آزمایش و عوامل شکست اندازه‌گیری شده می‌تواند توسعه‌دهندگان راننده را از استراتژی‌های مرتبط برای بهبود بیشتر قابلیت اطمینان آگاه کند.
همانطور که مشخص است، درایورهای LED، مانند خود اجزای LED، برای کیفیت نور بهینه بسیار مهم هستند. طراحی مناسب درایور می تواند سوسو زدن را از بین ببرد و روشنایی یکنواخت را فراهم کند. و درایور نیز محتمل‌ترین جزء در چراغ‌های ال‌ای‌دی یا وسایل روشنایی برای خرابی است. پس از درک اهمیت درایورها، DOE یک پروژه تست درایور طولانی مدت را در سال 2017 آغاز کرد. این پروژه شامل درایورهای تک کانالی و چند کاناله است که می تواند برای تعمیر دستگاه هایی مانند شیارهای سقف استفاده شود.
وزارت انرژی ایالات متحده قبلاً دو گزارش در مورد روند آزمایش و پیشرفت منتشر کرده است و اکنون سومین گزارش داده های آزمایشی منتشر می شود که نتایج آزمایش محصول را تحت شرایط AST به مدت 6000-7500 ساعت تحت پوشش قرار می دهد.
در واقع، صنعت برای چندین سال زمان زیادی برای آزمایش درایوها در محیط های عملیاتی معمولی ندارد. برعکس، وزارت انرژی ایالات متحده و پیمانکار آن RTI International، درایو را در محیطی که آنها آن را 7575 می نامند - با رطوبت داخلی و دمای ثابت در 75 درجه سانتیگراد آزمایش کرده اند. این آزمایش شامل دو مرحله تست راننده است، مستقل از کانال طراحی تک مرحله ای هزینه کمتری دارد، اما فاقد مدار جداگانه ای است که ابتدا AC را به DC تبدیل می کند و سپس جریان را تنظیم می کند که منحصر به طراحی دو مرحله ای است.

گزارش وزارت انرژی ایالات متحده بیان می کند که در آزمایش های انجام شده بر روی 11 درایو مختلف، همه درایوها به مدت 1000 ساعت در محیط 7575 اجرا شدند. هنگامی که درایو در اتاق محیطی قرار دارد، بار LED متصل به درایو تحت شرایط محیطی در فضای باز قرار می گیرد، بنابراین محیط AST فقط روی درایو تأثیر می گذارد. DOE زمان اجرا تحت شرایط AST را به زمان اجرا در شرایط عادی پیوند نداد. اولین دسته از دستگاه ها پس از 1250 ساعت کار از کار افتاد، اگرچه برخی از دستگاه ها هنوز در حال کار هستند. پس از تست به مدت 4800 ساعت، 64 درصد از دستگاه ها از کار افتادند. با این وجود، با توجه به محیط آزمایش سخت، این نتایج در حال حاضر بسیار خوب هستند.
محققان دریافته اند که بیشتر خطاها در مرحله اول درایور رخ می دهد، به خصوص در مدارهای تصحیح ضریب توان (PFC) و مدارهای سرکوب تداخل الکترومغناطیسی (EMI). در هر دو مرحله درایور، ماسفت ها نیز ایراد دارند. این AST علاوه بر نشان دادن مناطقی مانند PFC و MOSFET که می توانند طراحی درایور را بهبود بخشند، همچنین نشان می دهد که معمولاً می توان خطاها را بر اساس نظارت بر عملکرد راننده پیش بینی کرد. برای مثال، نظارت بر ضریب توان و جریان افزایش می‌تواند عیب‌های اولیه را از قبل تشخیص دهد. افزایش چشمک زدن نیز نشان می دهد که یک نقص قریب الوقوع است.
برای مدت طولانی، برنامه SSL DOE آزمایشات و تحقیقات مهمی را در زمینه SSL انجام می دهد، از جمله آزمایش محصول سناریو برنامه تحت پروژه Gateway و آزمایش عملکرد محصول تجاری تحت پروژه Caliper.